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32-张寿林.pdf

上传人: 山哈 编号:725381 2025-07-04 15页 781.11KB

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本文介绍了一种名为DUET的基于FPGA加速的软硬件联合Difftest RISC-V芯片敏捷验证框架。关键点如下: 1. 背景:提出了敏捷验证方法,以应对处理器开发中验证成为瓶颈的问题,特别是针对RISC-V处理器复杂的验证需求。 2. DUET架构:该框架支持FPGA与CPU异构协同仿真,通过硬件模块设计(如数据打包、传输模块)和软件模块设计实现高效的验证流程。 3. 性能评估:DUET在仿真速率上有显著优势,与Difftest相比,DUET在ARM Cortex-A53上运行时,速度约为255KIPS,比Difftest快1.8X~2.2X。 4. 粒度测试:实验结果表明,粒度越大,验证速度越快,且在粒度为1000时,速度提升显著,精度影响较小。 5. 总结:DUET框架结合了FPGA硬件加速和软件调试能力,能同时运行待测设计和软件参考模型,为RISC-V芯片敏捷验证提供了有效的解决方案。相关研究已发表于ISEDA’24会议。 核心数据引用:Difftest速度约为170KIPS,DUET速度约为255KIPS。
"DUET如何提升验证速度?" "FPGA加速下的DUET架构是怎样的?" "RISC-V芯片验证中DUET有多高效?"
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