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泰克:PCIExpressGen5自动多路测试白皮书(11页).pdf

上传人: AG 编号:610171 2024-01-01 11页 2.95MB

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本文介绍了PCI Express Gen5自动多路测试的白皮书,主要内容涵盖了PCIe Gen5的发射机和接收机测试。文中提到,为了全面表征高速链路,需要透过被测链路的多条不同通路执行发射机和接收机测量。为此,采用RF开关矩阵可以在改变物理连接的同时进行多路测试。 关键数据包括: 1. PCIe Gen5器件的通路宽度一般为x1、x4、x8和x16。 2. 采用RF开关矩阵可以在不过度改变DUT和测试设备电缆的情况下实现多路测试。 3. 必须注意,应使RF开关的电气影响达到最小,确保测试对规范要求或验证测试计划是真实的。 4. 文中给出了CEM测试图和BASE测试图,以及如何使用RF开关进行Gen5 Tx和Rx测试的设置和指引。 5. 推荐使用相位匹配的电缆,在相邻的40 GHz继电器之间建立固定连接,以实现良好的测试效果。 本文还介绍了如何使用Mini-Circuits的RF开关进行Gen5多路测试,以及如何扩展到其他RF开关模块和技术。此外,提供了如何使用泰克SignalCorrect软件进行通道损耗的校正,以及如何进行自动通道到通道时延校正的方法。 总之,本文提供了关于PCI Express Gen5自动多路测试的详细信息,包括测试设置、挑战和解决方案,以及如何使用RF开关矩阵和泰克软件进行高效准确的测试。
如何实现PCIe Gen5自动多路测试? RF开关在PCIe Gen5自动测试中的应用有哪些挑战? 如何使用SignalCorrect软件检验通道损耗?
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