开放数据中心标准推进委员会：2024年RaidCard性能测试技术报告（28页）.pdf

1、Raid Card 性能测试技术报告编号 ODCC-2024-0500DRaidRaid CardCard 性能测试性能测试技术报告技术报告2024.09 发布开放数据中心标准推进委员会Raid Card 性能测试技术报告版权声明版权声明ODCC（开放数据中心委员会）发布的各项成果，受著作权法保护，编制单位共同享有著作权。转载、摘编或利用其它方式使用 ODCC 成果中的文字或者观点的，应注明来源：“开放数据中心委员会 ODCC”。对于未经著作权人书面同意而实施的剽窃、复制、修改、销售、改编、汇编和翻译出版等侵权行为，ODCC 及有关单位将追究其法律责任，感谢各单位的配合与支持。Raid Car

2、d 性能测试技术报告编写组项目经理：项目经理：黄福帅联想（北京）信息技术有限公司工作组长：工作组长：郭亮中国信息通信研究院贡献专家：贡献专家：李军深圳忆联信息系统有限公司张华深圳忆联信息系统有限公司胡振国联想（北京）信息技术有限公司吴福磊联想（北京）信息技术有限公司刘振华联想（北京）信息技术有限公司徐媛媛联想（北京）信息技术有限公司王瑞联想（北京）信息技术有限公司孙志超中科曙光许泗强浪潮通信信息系统有限公司温小振中国信息通信研究院Raid Card 性能测试技术报告目录目录一、目的与范围.1二、缩写和术语.1三、协议分析.3（一）Raid Card 上下行协议.3四、性能分析.4（一）Raid

3、 Card 性能瓶颈分析.41.Pcie Gen4 SAS3.42.Pcie Gen4 SAS4.5（二）SAS 3.0 Raid Card 性能极限估算.6（三）SAS 4.0 Raid Card 性能能力估算.8五、Raid 等级介绍.9（一）Raid0.10（二）Raid1.10（三）Raid 5/6.10（四）Raid 10.11六、测试环境.11（一）测试机型.12（二）测试 Raid Card.12（三）测试配置.121.Comfig1.122.Comfig2.13Raid Card 性能测试技术报告3.Comfig3.134.Comfig4.13七、测试方法.14（一）测前准备.

4、14（二）测试参数.14（三）数据监控.15八、性能调优.16（一）BIOS 条件性能.161.BIOS 下性能影响因子.16（二）操作系统下调优方法.161.操作系统下性能影响因子.162.性能影响因子参数解释.173.性能影响因子参数优化数据.18（三）Raid Card 参数调优方法.201.Strip 参数评估.202.Cache 参数评估.21Raid Card 性能测试技术报告1RaidRaid CardCard 性能测试技术报告性能测试技术报告一、一、目的与范围目的与范围本测试规范旨在为 MR/IMR Raid Card 环境下，通过 Raid SOC来实现对下挂SATASAS盘

5、以及Expander拓展组成不同的Raid Level的实践测试。对不同的 Raid 影响因子进行分析找到性能优化方案以及选取合适的性能使用场景。本测试规范的范围涵盖了不同的 Raid Card 供应商的不同 RaidCard 系列，不同的搭载场景，不同的下挂协议层，以及不同的 RaidLevel 的性能进行数据库统计优化分析。本测试规范旨在提供一套统一的测试方法和指导，以确保在不同Raid Card，不同的搭载环境，不同的协议实现，以及不同的Raid Level下，通过对影响因子以及环境特性的分析，找到性能优化的最优点，对不同性能的优势点进行分析，找到最适合的应用场景。本测试规范不涉及 Ra

6、id 协议的设计和开发，也不涉及 Raid Level实现的具体实现方法。它仅涉及对 Raid Card 性能的调优以及测试方法。二、二、缩写和术语缩写和术语缩略语英文全称中文全称ACPIAdvanced Configuration and PowerManagement Interface高级配置和电源管理接口ARActive Range可运作范围AWBAlways WriteBack强制写回BBUBattery Backup Unit备用电源组BGIBackground Initialization Rate虚拟磁盘后台初始化时占用的 I/O 资源的百分比Raid Card 性能测试技术报