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SESSION 25 High Concepts at High Frequencies.pdf

上传人: 张** 编号:620890 2025-03-31 225页 16.98MB

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本文主要介绍了在28nm CMOS技术中实现的一个4端口集成通道分析仪,用于高密度信号完整性测量。关键点包括: 1. 提出了一种新的集成通道分析仪(ICA),每个ICA包含发射器和采样器,支持双向TDR和TDT测量。 2. 发射器采用模式化阶跃刺激信号,结合周期信号,以提高特定频段的功率,改善高频下的信噪比。 3. 采样器采用顺序等效时间采样(SETS)技术,配合14GHz 7位相位插值器,提供558fs的等效采样率。 4. 采样保持电路采用时钟增强技术,将保持误差从40mV降低到34μV。 5. 该ICA在28nm CMOS技术中实现,芯片面积为6mm²,每个端口功耗为99.5mW,支持多芯片协同测试。 6. 该ICA在DC至40GHz频率范围内进行验证,平均测量误差低于6.5%,在28GHz处DUT IL为20.04dB。
如何在毫米波/亚毫米波范围内实现高效率的功率放大器设计? 如何利用深度强化学习和反向设计实现射频集成电路的端到端合成? 如何设计一种能够在DC至50GHz范围内进行非破坏性原位测量的微机电探针系统?
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