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SESSION 29 SRAM.pdf

上传人: 张** 编号:620862 2025-03-31 125页 5.32MB

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本文主要介绍了在3nm FinFET技术中实现的高密度双轨SRAM设计。关键点包括: 1. 采用接口双轨架构,实现了38Mb/mm2的高密度SRAM,独立于SRAM阵列电源实现了380mV的VMIN。 2. 提出了一种扩展范围级联器(ERLS),用于在双轨架构中进行电平转换,实现了与单轨设计相比无访问时间开销。 3. 在3nm FinFET技术中,实现了3.6GHz的双端口SRAM,通过后端RC优化和远端写辅助方案,实现了1.5倍的频率提升,0.7倍的能耗,以及1.52倍的位密度提升。 4. 采用1bit-3row的周边布局规则,实现了远端写辅助和M4金属MOM电容,以减少局部M4的IR降。 5. 测试结果显示,在1.0V、-40°C的条件下,实现了VMIN < 0.5V和3.6GHz的性能。
3nm技术如何提高SRAM密度? 双轨SRAM设计如何优化? 远端写辅助技术如何改善SRAM性能?
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