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4、DEKRA德凯 - 开发阶段的车规级电子组件工艺评价与器件失效分析分享.pdf

上传人: 2*** 编号:142193 2023-09-09 27页 8MB

1、开发阶段的车规级电子组件工艺评价与器件失效分析分享DEKRA德凯昆山实验室 陈彦奇yanqi.chendekra-182602516842表面贴装组件的可视焊点与不可视焊点封装演进Non-visible solder joints:QFNNon-visible solder joints:BGAVisible solder joints:Gull Wing leads3焊接工艺中的热对组件共面性与翘曲潜在风险4焊接工艺中的热对湿敏组件选型要求(车规级至少MSL3)车用环境严苛,透过预处理(AEC-Q100 A1,Preconditioning)来验证对应的MSL等级。IPC/JEDEC J-S

2、TD-020F 非气密表面贴装器件潮湿/再流焊敏感度分级。MSL1潮湿敏感等级吸湿效率最低。MSL6潮湿敏感等级最低,最易受车间环境影响。组件拆封吸湿后经再流焊接工艺导致封装体内部分层、绑定线开裂或电路间漏电。5电子组装评价与可制造性设计风险控管(基于测试结果的设计审查)DEVELOPMENTTestsDRBTR(Design Review Based on Test Results)DESIGN VALIDATIONTestsDRBTRPRODUCTVALIDATIONTestsDRBTRDEVELOPMENTVisual Inspection&DissectionFailure Mode

3、AnalysisDRBTR or Design Review Based on Failure Mode(DRBFM)Design for ManufactureDESIGN VALIDATION6设计验证阶段-短时间设计/组装能力验证 与 长时间测试验证目的差别Standard NumberStandardGB2423-22电工电子产品基本环境试验规程 试验N:温度变化试验方法IEC 60068-2-14Basic environmental testing procedures.Part 2:Tests Test N:Change of temperatureSAE J1455 4.1.3

4、.2Recommended Environmental Practices for ElectronicEquipment Design in Heavy-Duty Trucks Thermal ShockMIL-STD-883G Method 1011.9 Test Method Standard Microcircuits-Thermal ShockISO 16750-4 5.3.3Enviromental conditions and testing for electrical andelectronic equipment-Part4:Climatic loads,Temperatu

5、reShockNumber of Cycles5 cycles5 cycles5 cycles1520 cycles100 300 cycles设计量产7设计验证阶段-HALT摸底测试介绍QualmarkOVS Typhoon 4.0*3Working Space136.4 137 91cm&136.4 137 140cmTable Size122(L)122(W)cmTemperature Range-80C+180C(Calibrated)Ramp Rate60C/min(Calibrated)Acceleration(210000Hz)50 Grms(Calibrated)可制造性设计D

6、FM对策:整合前几大的环境应力(冷热循环、随机振动与温度等)设计出的HALT测试,可快速的发现产品潜在设计风险或选材问题。德凯昆山具有设备数量与整合服务优势。预估未包含失效整改时间的测试时间约20小时。德凯昆山可平行开展3项摸底测试优势。依据HALT结果可以执行HASS筛选与HASA稽核测试,以及定出合适的老化(Burn-in)温度。8设计验证阶段-HALT标准纵向与横向比较从标准间纵向与横向比对,有助于理解各厂家要求差异,并可依客户产品做客制化方案建议。摸底测试中,从测试结果反馈可以实时了解客户设计或制造能力变化。9设计验证阶段-HALT对产品质与量的变化0246810Stage1Stage

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本文主要介绍了德凯昆山实验室在车规级电子组件工艺评价与器件失效分析方面的分享。关键点包括:1)车规级电子组件的焊接工艺及热对组件共面性与翘曲潜在风险;2)焊接工艺中的热对湿敏组件选型要求(车规级至少MSL3);3)设计验证阶段-短时间设计/组装能力验证与长时间测试验证目的差别;4)设计验证阶段- HALT摸底测试介绍及应用;5)设计验证阶段- HALT标准纵向与横向比较;6)失效分析工具介绍,包括非破坏方法和破坏方法;7)常见的电子组件失效问题及解决策略;8)DEKRA德凯平台的价值体现。
如何通过HALT测试优化汽车电子组件设计? 陶瓷电容布线设计对电子组件焊点稳定性的影响是什么? 组件高电阻失效分析中,哪些因素可能导致开路故障?
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