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低成本高可靠芯片空腔封装(ACC ACP)B-Stage胶与芯片等温空腔封装工艺设备整体解决方案及其特点.pdf

上传人: 山哈 编号:724969 2025-07-04 83页 29.31MB

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根据报告的内容,本文主要介绍了B-Stage胶与等温空腔封装工艺设备及其特点。关键点如下: 1. B-Stage胶在芯片封装过程中的工艺痛点包括溢胶、炸胶、鼓泡、穿孔、漏气、偏位、污渍、裂痕、压痕等。 2. B-Stage胶工艺特性包括可预固化、胶厚易控、粘接力强等,正确选型对封装质量至关重要。 3. 等温空腔封装中管壳材料特性影响点包括CTE、TC、界面、公差等,B-Stage胶可弥补管壳不足。 4. 佛大华康工艺装备技术可解决行业痛点,实现高一致性、高合格率封装。 5. 应用案例表明B-Stage胶与等温空腔封装可应用于多种芯片封装,实现高质量、高可靠性、低成本封装。 6. 佛大华康科技拥有专业的等温空腔封装团队,掌握核心技术,提供整体解决方案。
B-Stage胶在芯片封装中的痛点是什么? 如何选择合适的B-Stage胶? 等温空腔封装中管壳材料特性如何影响封装质量?
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