半导体第三方检测主要检测服务（胜科纳米）-行业数据

半导体第三方检测主要检测服务（胜科纳米） 原图定位

半导体第三方实验室检测主要可分为失效分析（FA）、材料分析（MA）、可靠性分析（RA）三个类别。失效分析主要指通过实验分析手段确定元器件既有的失效现象的原因及失效机理，或判断可能存在的失效情况；材料分析主要指对样品进行材料成分及结构的分析，包括化学组分、元素、元素价态、元素百分比、元素分布结构等；可靠性分析指考察特定实验条件下产品的寿命特征、环境适应能力等，通过特定实验环境模拟的方式对产品的性能进行分析，研究特定时间、特定使用环境对产品实现某种特定功能的影响程度。