扇出型晶圆级封装(FOWLP)过程 重新布线(RDL)和凸点(Bump)改变原设计的芯片I/O引脚位置,根据重新分布的凸点位置不同,可分为扇入型(Fan-in)和扇出型(Fan-out)两种,扇入型是指RDL Bump位于芯片本体之上,扇出型则是指RDL Bump位于芯片外的Molding之上。扇入型WLP 封装的封装尺寸与芯片尺寸相同,而扇出型WLP 则具有比芯片更大的封装尺寸。由于整个晶圆能够实现一次全部封装,晶圆级封装能够有效提升封装效率,并降低工艺成本。 行业数据 下载Excel 下载图片 原图定位