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数据中心单通道200G的测试验证挑战-李凯.pdf

上传人: 2*** 编号:152082 2024-01-05 16页 6.24MB

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本文主要探讨了数据中心200G/λ的测试验证挑战以及数据中心高速光电接口的发展。其中,提到了不同年份的高速光电接口和其对应的波特率,如2002年的PCIe5和CXL,2023年的USB 4.0v2,以及未来的PCIe7、MIPI Mphy 5.0和GDDR6等。文章还提到了下一代互联技术的挑战,包括减小系统功耗的方法、线性驱动技术、通道的一致性测试的重要性以及调制格式、波特率、SNR的挑战。此外,文章还介绍了一种基于测量脉冲响应的106Gbaud SSPRQ 光眼图测试,以及Keysight公司的800G/1.6T 全流程测试解决方案。最后,文章提到了一些具体的测试仪器和设备,如N77xxC Optical ComponentTest Instruments、DCA-X Sampling Oscilloscopes和M8199B AWG等。
数据中心光电接口如何实现高速发展? 下一代互联技术面临哪些挑战和解决方案? 光通信领域中的硅光微环调制器有何应用优势?
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